基于CTL的SOC IP核的测试技术

• 作者: 吴明行 李晓维 韩银和
• 来源期刊: 计算机工程与科学
• 学科: 工学
• 关键词: 核测试语言 SOC测试设计 嵌入式芯核 可测试性设计 测试复用
• 年，卷（期）: 2005,（4）
• 所属期刊栏目: 硬件测试
• 页码范围: 43-45
• 页数: 3页
• 分类号: TP311.5
• 字数: 2690字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1007-130X.2005.04.015

摘要

本文介绍了一种针对SOC测试设计中嵌入式芯核的核测试语言(CTL).该语言描述了如何将可测试性设计置入具有知识产权 (Intellectual Property,简称IP)芯核和SOC中,从而加速测试生成和复用.CTL语言标准虽然还未被IEEE正式通过,但已经在EDA厂商、ATE厂商和IP芯核提供者之间悄然兴起并被积极采用,一系列基于CTL的产品也相继被研制出来.本文通过对CTL的分析与研究,较为详细地说明了CTL引入的重要性及其特性,并为SOC IP芯核提供CTL语言测试设计实例.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	韩银和	中国科学院计算技术研究所	48	573	12.0	22.0
2	李晓维	中国科学院计算技术研究所	127	1467	20.0	32.0
3	吴明行	中国科学院计算技术研究所	4	20	3.0	4.0