SOC测试访问机制

• 作者: 杨士元 王红 邢建辉
• 来源期刊: 科技与创新
• 关键词: SOC IP核 测试访问机制 复用
• 年，卷（期）: 2006,（2）
• 所属期刊栏目: 片上系统SOC
• 页码范围: 117-119
• 页数: 3页
• 分类号: TN43
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1008-0570.2006.02.043

摘要

以复用为基础,通过测试访问机制(TAM,Test Access Mechanism)实现对深嵌在SOC(System On Chip)内部的IP核(Intellectual Property,知识产权模块)的测试,是解决SOC测试的根本方法.本文将介绍现有的几类典型的测试访问机制:(1)直接测试访问,(2)基于总线的测试访问机制,(3)基于透明模型的访问机制等.分析它们的特点,探讨面临的主要问题.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	杨士元	清华大学自动化系	124	1303	17.0	30.0
2	王红	清华大学自动化系	52	388	11.0	18.0
3	邢建辉	清华大学自动化系	9	37	4.0	6.0