基于外壳架构与测试访问机制的数字芯核可测试性设计

• 作者: 李广进 陈圣俭 高华
• 来源期刊: 微电子学与计算机
• 关键词: IEEE Std1500 外壳 可测试性 测试访问机制 TAM控制器
• 年，卷（期）: 2012,（6）
• 页码范围: 42-45,50
• 分类号: TP391.76
• 语种: 中文

摘要

深亚微米技术的应用以及芯核的嵌入性特点，使传统的测试方法不再能满足芯核测试的需要，1EEEStd1500针对此问题提出了芯核的可测试性设计方案…外壳架构和测试访问机制．基于IEEEStd1500，以74373与74138软核为例，提出数字芯核可测试性设计的方法，并通过多种指令仿真验证了设计的合理性；设计的TAM控制器复用JTAG端口，节约了测试端口资源，提供了测试效率．

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	陈圣俭	装甲兵工程学院控制工程系	49	228	9.0	12.0
2	高华	装甲兵工程学院控制工程系	6	14	2.0	3.0
3	李广进	装甲兵工程学院控制工程系	7	20	3.0	4.0