基于TAM分组策略的SoC测试多目标优化设计

• 作者: 李清清 谈恩民
• 来源期刊: 微电子学与计算机
• 关键词: SoC测试 测试时间 测试功耗 测试访问机制 多目标遗传算法
• 年，卷（期）: 2013,（10）
• 页码范围: 69-72
• 页数: 4页
• 分类号: TN407
• 语种: 中文

摘要

在片上系统芯片（System-on-Chip ，SoC）测试优化技术的研究中，测试时间和测试功耗是相互影响相互制约的两个因素。在基于测试访问机制（Test Access Mechanism ，TAM ）分组策略的基础上，以测试时间和测试功耗为目标建立了联合优化模型，运用多目标遗传算法对模型进行求解。以ITC’02标准电路中的p93791电路为实例进行验证，表明此方法能够在测试时间和测试功耗的优化上获得较理想的解，且能提高TAM通道的利用率。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	谈恩民	桂林电子科技大学电子工程与自动化学院	53	221	8.0	11.0
2	李清清	桂林电子科技大学电子工程与自动化学院	1	2	1.0	1.0