基于CMGA的SoC测试多目标优化研究

• 作者: 琚兆学 谈恩民
• 来源期刊: 微电子学与计算机
• 关键词: 混沌映射 多目标遗传 测试访问机制 测试功耗
• 年，卷（期）: 2016,（5）
• 页码范围: 111-114
• 页数: 4页
• 分类号: TP31
• 语种: 中文

摘要

针对传统群体智能算法在解决SoC测试多目标优化问题上存在的缺陷,将改进的Tent混沌映射引入到多目标遗传算法中.建立以测试时间和测试功耗为目标的优化模型,在测试访问机制合理划分基础上,利用算法对该数学模型进行求解.选取典型的ITC'02基准电路为验证对象,实验结果表明此算法的实用性和优越性.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	谈恩民	桂林电子科技大学电子工程与自动化学院	53	221	8.0	11.0
2	琚兆学	桂林电子科技大学电子工程与自动化学院	1	1	1.0	1.0