基于试验设计技术的IC优化设计

• 作者: 张小波 游海龙 贾新章
• 来源期刊: 电子器件
• 学科: 工学
• 关键词: 试验设计技术 统计模型 低功耗集成运放 仿真试验
• 年，卷（期）: 2005,（4）
• 页码范围: 830-833
• 页数: 4页
• 分类号: TN402
• 字数: 2452字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1005-9490.2005.04.036

摘要

现代集成电路(IC)的优化设计主要依靠EDA工具完成.但是针对多指标、多参数的IC设计,单纯依靠EDA工具存在效率低以及指标和参数个数限制等问题.从试验设计技术出发,以EDA仿真作为实验,建立指标与参数的统计模型,进而优化设计电路,解决了上述问题.将该方法应用于4参数、3指标的低功耗集成运放的设计,仅通过16轮仿真试验,得到了电路指标最优情况下的参数设置.该方法对多指标、复杂参数的集成电路的优化设计更具优越性.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	游海龙	西安电子科技大学微电子学院	21	187	8.0	13.0
2	贾新章	西安电子科技大学微电子学院	63	572	14.0	20.0
3	张小波		1	3	1.0	1.0