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摘要:
由于仿真不收敛等问题,仅依靠EDA仿真很难实现集成电路(IC)稳健性设计.提出了利用响应曲面(RSM)与电路仿真相结合对集成电路进行稳健性优化设计的方法.并将该方法应用于带隙基准电路稳健优化设计.通过Hspice电路仿真与统计试验设计(DOE),仅利用27组试验建立了3目标值、4参数电路的响应曲面模型.并基于该模型对电路进行稳健性设计,优化确定的参数组合满足电路指标,同时对温度的变化更加不敏感.
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文献信息
篇名 采用响应曲面方法实现IC的稳健优化设计
来源期刊 西安电子科技大学学报(自然科学版) 学科 工学
关键词 稳健优化设计 响应曲面法(RSM) 试验设计(DOE)
年,卷(期) 2009,(3) 所属期刊栏目
研究方向 页码范围 458-462
页数 5页 分类号 TN722
字数 2273字 语种 中文
DOI 10.3969/j.issn.1001-2400.2009.03.015
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 游海龙 西安电子科技大学微电子学院 21 187 8.0 13.0
5 贾新章 西安电子科技大学微电子学院 63 572 14.0 20.0
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研究主题发展历程
节点文献
稳健优化设计
响应曲面法(RSM)
试验设计(DOE)
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
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期刊影响力
西安电子科技大学学报(自然科学版)
双月刊
1001-2400
61-1076/TN
西安市太白南路2号349信箱
chi
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