Nafion修饰玻碳电极伏安法测定痕量锡

• 作者: 向翠丽 李俊华 费锡明 邹勇进
• 来源期刊: 化学试剂
• 学科: 化学
• 关键词: Nafion修饰电极 伏安法 锡
• 年，卷（期）: 2005,（11）
• 所属期刊栏目: 研究报告与简报
• 页码范围: 650-652
• 页数: 3页
• 分类号: O657.1
• 字数: 2259字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.0258-3283.2005.11.004

摘要

报道了一种用Nafion修饰玻碳电极测定痕量锡的新方法.研究了Nafion膜的有关特性和测定的优化条件,当富集时间为3min时,峰电流与Sn(Ⅳ)浓度在1×10-9～1×10-7mol/L的范围呈良好的线性关系,检测限为2.46×10-10mol/L.该法用于实际水样中痕量锡的测定,平均回收率为97.24%.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	费锡明	华中师范大学化学学院	29	406	13.0	19.0
2	邹勇进	华中师范大学化学学院	9	130	7.0	9.0
3	向翠丽	华中师范大学化学学院	5	32	3.0	5.0
4	李俊华	华中师范大学化学学院	6	66	4.0	6.0