红外热成像无损检测中缺陷深度检测新方法

• 作者: 洪伟铭 祖小涛 薛书文
• 来源期刊: 激光与红外
• 学科: 工学
• 关键词: 脉冲 红外热成像 无损检测
• 年，卷（期）: 2005,（3）
• 所属期刊栏目: 红外技术
• 页码范围: 175-176
• 页数: 2页
• 分类号: TN219
• 字数: 1436字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1001-5078.2005.03.010

摘要

文章在考虑缺陷大小对深度计算影响的基础上,通过对峰值时间与材料热特性参数、缺陷深度以及缺陷大小(直径)的拟合,给出一个新的计算缺陷深度的公式,并通过实验验证了其可行性.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	祖小涛	电子科技大学应用物理系	111	627	12.0	17.0
2	洪伟铭	湛江师范学院物理系	18	76	4.0	8.0
3	薛书文	电子科技大学应用物理系	10	80	5.0	8.0