大工业电子元器件应用过程中的质量控制与失效分析

• 作者: 刘宏
• 来源期刊: 电子质量
• 学科: 工学
• 关键词: 失效分析 质量控制 电子元器件
• 年，卷（期）: 2005,（11）
• 所属期刊栏目: 可靠性分析与研究
• 页码范围: 27-29
• 页数: 3页
• 分类号: TB114.2
• 字数: 4383字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1003-0107.2005.11.011

摘要

本文重点阐述如何在电子元器件应用过程中进行有效地质量控制和失效分析,以确保电子元器件使用质量与可靠性.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	刘宏		58	385	9.0	18.0