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一种紧凑性指标最小的抗误判算法
一种紧凑性指标最小的抗误判算法
作者:
任哲平
常天庆
牛春平
陈圣俭
原文服务方:
微电子学与计算机
边界扫描
优化
算法
征兆误判
紧凑性指标
摘要:
影响测试向量集对所有故障进行准确定位的原因主要是由于存在两类问题:征兆误判问题和征兆混淆问题,而征兆误判问题对故障诊断准确性的影响更大.论文分析了测试向量生成中的征兆误判现象,结合现有的抗误判测试向量生成算法,从紧凑性角度考虑,得到了一种紧凑性指标最小的抗误判算法.该算法不仅避免了征兆误判现象,而且减小了紧凑性指标,缩短了测试时间.
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文献信息
篇名
一种紧凑性指标最小的抗误判算法
来源期刊
微电子学与计算机
学科
关键词
边界扫描
优化
算法
征兆误判
紧凑性指标
年,卷(期)
2005,(5)
所属期刊栏目
研究方向
页码范围
159-161,165
页数
4页
分类号
TN407
字数
语种
中文
DOI
10.3969/j.issn.1000-7180.2005.05.040
五维指标
作者信息
序号
姓名
单位
发文数
被引次数
H指数
G指数
1
陈圣俭
49
228
9.0
12.0
2
牛春平
24
102
5.0
9.0
3
任哲平
27
123
6.0
10.0
4
常天庆
115
499
11.0
15.0
传播情况
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2019(2)
引证文献(1)
二级引证文献(1)
研究主题发展历程
节点文献
边界扫描
优化
算法
征兆误判
紧凑性指标
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
微电子学与计算机
主办单位:
中国航天科技集团公司第九研究院第七七一研究所
出版周期:
月刊
ISSN:
1000-7180
CN:
61-1123/TN
开本:
大16开
出版地:
邮发代号:
创刊时间:
1972-01-01
语种:
chi
出版文献量(篇)
9826
总下载数(次)
0
总被引数(次)
59060
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