Al激光等离子体电子密度的空间分辨诊断

• 作者: 张继彦 杨柏谦 郑志坚 韩申生
• 来源期刊: 强激光与粒子束
• 学科: 物理学
• 关键词: 激光等离子体 翼部Stark展宽 电子密度 X射线光谱学
• 年，卷（期）: 2005,（5）
• 所属期刊栏目: ICF与激光等离子体
• 页码范围: 703-706
• 页数: 4页
• 分类号: O536|O433.1
• 字数: 1725字
• 语种: 中文

摘要

采用20 μm的狭缝配平面晶体谱仪构成空间分辨光谱测量系统,对Al激光等离子体的K壳层发射谱进行测量.利用Al的Ly-α线谱的翼部Stark展宽效应推得电子密度空间分布轮廓,建立了翼部Stark展宽法测量高密度等离子体电子密度的诊断技术.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	郑志坚	中国工程物理研究院激光聚变研究中心	101	433	12.0	16.0
2	张继彦	中国工程物理研究院激光聚变研究中心	31	169	7.0	12.0
3	韩申生	中国科学院上海光学精密机械研究所	45	175	7.0	13.0
4	杨柏谦	中国科学院上海光学精密机械研究所	1	24	1.0	1.0