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摘要:
提出了一种采用光热激励和光拾取的全光谐振技术方法,确定硅微机械薄膜的杨氏弹性模量.该方法基于光热激励的致动机理,使用调制光对硅微机械薄膜结构进行光热激励使之谐振,利用光纤传感技术拾取其谐振频率信号,进而利用谐振理论模型确定其杨氏弹性模量.为准确确定杨氏弹性模量,利用了硅微薄膜结构的前三阶谐振频率进行多次测量,求均值的方法.为简化光激励测试系统,设计了新颖结构的单光源激励测试系统,同时实现了对微机械薄膜结构的激振和信号拾取.
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内容分析
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文献信息
篇名 光激光拾谐振法确定硅微机械薄膜的杨氏弹性模量
来源期刊 光子学报 学科 物理学
关键词 硅微机械薄膜 杨氏弹性模量 光激励谐振 光纤拾取
年,卷(期) 2005,(6) 所属期刊栏目 薄膜光学
研究方向 页码范围 877-880
页数 4页 分类号 O484.5
字数 2914字 语种 中文
DOI
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 刘月明 西安理工大学理学院物理系 14 60 5.0 7.0
3 张少君 西安理工大学理学院物理系 16 86 5.0 9.0
传播情况
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2006(1)
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研究主题发展历程
节点文献
硅微机械薄膜
杨氏弹性模量
光激励谐振
光纤拾取
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
光子学报
月刊
1004-4213
61-1235/O4
大16开
西安市长安区新型工业园信息大道17号47分箱
52-105
1972
chi
出版文献量(篇)
8749
总下载数(次)
11
总被引数(次)
70454
论文1v1指导