微电子产品冲击试验机

• 作者: 任继文 刘胜 吕明富 张鸿海 汪学方 马斌
• 来源期刊: 仪器仪表学报
• 学科: 工学
• 关键词: 冲击试验机 动态参数 冲击
• 年，卷（期）: 2005,（10）
• 所属期刊栏目: 短文
• 页码范围: 1052-1055,1066
• 页数: 5页
• 分类号: TH873.4
• 字数: 2342字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:0254-3087.2005.10.016

摘要

微电子产品在一般使用和各种运输过程中都可能因为不同形式的冲击而造成功能失效,因此电子产品的抗冲击强度成为电子产品可靠性的一个评价指标,也是结构设计的一个重要考虑因素.但是目前常用的冲击试验机都是针对结构尺寸较大,质量较重的产品,对于微电子产品这种结构小、重量轻的特点,一般的试验机不能有效的检测出其冲击的力学特性.文章介绍了所设计的冲击试验机的原理结构及其功能,并使用移动电话在该机上进行一系列冲击试验,获得了载荷、加速度、应变等重复性良好动态力学参数,反映移动电话的抗冲击能力.掌握这些动态力学参数,对产品可靠性的设计有很大的帮助.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	马斌	华中科技大学机械学院微系统研究中心	4	23	3.0	4.0
2	张鸿海	华中科技大学机械学院微系统研究中心	68	430	11.0	16.0
3	汪学方	华中科技大学机械学院微系统研究中心	32	210	8.0	12.0
4	任继文	华中科技大学机械学院微系统研究中心	6	56	4.0	6.0