镀层和氧化膜厚度的显微镜测量技术

• 作者: 张德忠
• 来源期刊: 电镀与环保
• 学科: 工学
• 关键词: 电镀 氧化膜 厚度测量 显微镜
• 年，卷（期）: 2006,（6）
• 所属期刊栏目: 分析
• 页码范围: 33-35
• 页数: 3页
• 分类号: TH741.8
• 字数: 3189字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1000-4742.2006.06.012

摘要

对GB/T 6462-2005进行了简单介绍,着重介绍了显微镜法测量镀层和氧化膜厚度的原理、测量仪器和操作步骤、测量不确定度及其控制等,同时对横断面的制备进行了补充说明.该方法的突出特点是直观、重现性好,因而常用于仲裁,或检测精度要求较高的产品和校验其它测厚方法.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	张德忠		13	37	4.0	5.0