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摘要:
采用化学共沉淀法掺金属Nb,Ta和P到ITO材料中可使ITO(Indium Tin Oxide)靶相对密度达到97%~99%,并且靶电阻率小于3.0×10-4Ω·cm,其质量损失率小于4.0%.采用直接掺杂法将TiO2纳米粉末掺入到纳米ITO粉末中可使ITO靶相对密度达到95%以上.当烧结温度为1500℃时,掺Nb,Ta,P的ITO靶电阻率稍小于纯ITO靶的电阻率.
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烧结工艺对ITO靶材致密度与电阻率的影响
烧结温度
升温速率
烧结时间
气氛压力
电阻率
内容分析
关键词云
关键词热度
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文献信息
篇名 高密度高导电性ITO靶研制
来源期刊 稀有金属材料与工程 学科 工学
关键词 ITO 溅射靶 烧结剂 掺杂
年,卷(期) 2006,(7) 所属期刊栏目 材料科学
研究方向 页码范围 1021-1024
页数 4页 分类号 TF124|TF123
字数 2889字 语种 中文
DOI 10.3321/j.issn:1002-185X.2006.07.003
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 王天民 140 1545 22.0 32.0
2 崔敏 10 72 4.0 8.0
3 张维佳 18 162 8.0 12.0
4 金飞 1 12 1.0 1.0
5 丁照崇 2 12 1.0 2.0
6 阎兰琴 1 12 1.0 1.0
传播情况
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研究主题发展历程
节点文献
ITO
溅射靶
烧结剂
掺杂
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
稀有金属材料与工程
月刊
1002-185X
61-1154/TG
大16开
西安市51号信箱
52-172
1970
chi
出版文献量(篇)
12492
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15
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83844
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