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摘要:
就半导体工厂超纯水制造系统中的一个重要污染物TOC进行了比较全面的分析和说明,阐述了超纯水制造系统中TOC的来源、去除方法、检测手段以及控制管理,对半导体工厂的制水管理人员有很好的借鉴作用.
内容分析
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文献信息
篇名 超纯水制造系统中关于TOC的去除、检测和控制管理
来源期刊 净水技术 学科 工学
关键词 TOC 去除 检测 控制管理
年,卷(期) 2006,(3) 所属期刊栏目 专论与综述
研究方向 页码范围 17-19
页数 3页 分类号 TU99
字数 2595字 语种 中文
DOI 10.3969/j.issn.1009-0177.2006.03.005
五维指标
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研究主题发展历程
节点文献
TOC
去除
检测
控制管理
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
净水技术
月刊
1009-0177
31-1513/TQ
16开
上海市许昌路230号
1982
chi
出版文献量(篇)
4063
总下载数(次)
14
总被引数(次)
22438
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