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摘要:
本文提出了一种基于功能覆盖率的伪随机验证方法,该方法能根据功能覆盖率的反馈自动生成测试向量进行测试,能提高验证的效率和质量,缩短设计时间,降低验证成本。
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文献信息
篇名 微处理器基于功能覆盖率的伪随机验证方法
来源期刊 计算机与信息技术 学科 工学
关键词 覆盖率 伪随机 功能验证 微处理器
年,卷(期) jsjyxxjs_2006,(4) 所属期刊栏目
研究方向 页码范围 59-60
页数 2页 分类号 TP332
字数 语种
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2006(0)
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研究主题发展历程
节点文献
覆盖率
伪随机
功能验证
微处理器
研究起点
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相关学者/机构
期刊影响力
计算机与信息技术
月刊
大16开
1993
chi
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2343
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