用3mm准光腔测试介质片复介电常数

• 作者: 张其劭 李恩 雷丹
• 来源期刊: 宇航材料工艺
• 学科: 航空航天
• 关键词: 准光学谐振腔 介电常数 损耗角正切 品质因数 谐振频率
• 年，卷（期）: 2006,（2）
• 所属期刊栏目: 测试分析
• 页码范围: 71-74
• 页数: 4页
• 分类号: V25
• 字数: 2030字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1007-2330.2006.02.017

摘要

为了准确检测介质片在3 mm频段的复介电特性,采用固定腔长法,研制了工作在101.80 GHz的测试介质片复介电常数准光学谐振腔测试系统.结果表明:腔体的品质因数达8×104,高斯波束的束腰半径为2.36 mm.复介电常数的测试范围ε′为2～8;tanδ为3×10-4～5×10-3,最可几误差为|△ε′/ε′|小于等于10%;|△tanδ | 小于等于20%tanδ+1×10-4.此方法能检测大面积介质片复介电常数的均匀性.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	张其劭	电子科技大学微波测试中心	32	275	10.0	15.0
2	李恩	电子科技大学微波测试中心	36	316	10.0	15.0
3	雷丹	电子科技大学微波测试中心	1	12	1.0	1.0