制造工艺低相关的AGC跨阻放大器

• 作者: 付先成 余国义 杜明鲜 蒋湘 邹雪城
• 来源期刊: 光通信研究
• 学科: 工学
• 关键词: 模拟电路 跨阻放大器 光通信 互补金属氧化物半导体
• 年，卷（期）: 2006,（2）
• 页码范围: 65-67
• 页数: 3页
• 分类号: TN929
• 字数: 2289字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1005-8788.2006.02.020

摘要

文章提出了一种速率为622 Mbit/s的带自动增益控制(AGC)和自动偏移补偿(AOC)的光通信用跨阻集成放大器电路.本设计采用了中芯国际0.25 μm 1P3M的标准互补金属氧化物半导体(CMOS)工艺.HSPICE仿真结果表明,在各种偏差最大的工艺条件下,跨阻放大器初始增益的浮动区间为-10.2%～9.7%,而AGC的初始偏置电压的浮动区间为-0.384%～0.307%.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	邹雪城		310	2261	21.0	31.0
2	蒋湘		4	69	3.0	4.0
4	付先成		6	64	4.0	6.0
5	余国义		20	135	6.0	10.0
8	杜明鲜		3	6	2.0	2.0