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摘要:
天顶跟踪盲区是地平式光电跟踪系统的固有缺陷.X-Y双轴式光电跟踪系统(规则X-Y双轴式)可以解决过顶跟踪问题,但跟踪范围极为有限,把视轴沿X轴方向平移偏距D,形成一种改进的X-Y双轴式光电跟踪系统,即偏X-Y双轴式光电跟踪系统.偏X-Y双轴式光电跟踪系统可以解决过顶跟踪问题,其跟踪范围与规则X-Y双轴式光电跟踪系统相比有很大提高.由D引入的跟踪误差可以忽略或修正,但具有更大的地平面跟踪盲区.
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文献信息
篇名 偏距对改进X-Y双轴式光电跟踪系统跟踪性能的影响
来源期刊 光电工程 学科 航空航天
关键词 X-Y双轴式跟踪架 过顶跟踪 跟踪性能 偏距
年,卷(期) 2006,(5) 所属期刊栏目 目标跟踪与控制
研究方向 页码范围 1-5,26
页数 6页 分类号 V556
字数 2116字 语种 中文
DOI 10.3969/j.issn.1003-501X.2006.05.001
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 王强 中国科学院光电技术研究所 267 5471 42.0 69.0
5 马佳光 中国科学院光电技术研究所 49 810 15.0 27.0
6 陈洪斌 中国科学院光电技术研究所 36 327 11.0 17.0
7 刘兴法 中国科学院光电技术研究所 17 140 8.0 11.0
11 岑明 中国科学院光电技术研究所 5 49 4.0 5.0
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研究主题发展历程
节点文献
X-Y双轴式跟踪架
过顶跟踪
跟踪性能
偏距
研究起点
研究来源
研究分支
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引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
光电工程
月刊
1003-501X
51-1346/O4
大16开
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1974
chi
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4776
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