偏距对改进X-Y双轴式光电跟踪系统跟踪性能的影响

• 作者: 刘兴法 岑明 王强 陈洪斌 马佳光
• 来源期刊: 光电工程
• 学科: 航空航天
• 关键词: X-Y双轴式跟踪架 过顶跟踪 跟踪性能 偏距
• 年，卷（期）: 2006,（5）
• 所属期刊栏目: 目标跟踪与控制
• 页码范围: 1-5,26
• 页数: 6页
• 分类号: V556
• 字数: 2116字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1003-501X.2006.05.001

摘要

天顶跟踪盲区是地平式光电跟踪系统的固有缺陷.X-Y双轴式光电跟踪系统(规则X-Y双轴式)可以解决过顶跟踪问题,但跟踪范围极为有限,把视轴沿X轴方向平移偏距D,形成一种改进的X-Y双轴式光电跟踪系统,即偏X-Y双轴式光电跟踪系统.偏X-Y双轴式光电跟踪系统可以解决过顶跟踪问题,其跟踪范围与规则X-Y双轴式光电跟踪系统相比有很大提高.由D引入的跟踪误差可以忽略或修正,但具有更大的地平面跟踪盲区.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	王强	中国科学院光电技术研究所	267	5471	42.0	69.0
5	马佳光	中国科学院光电技术研究所	49	810	15.0	27.0
6	陈洪斌	中国科学院光电技术研究所	36	327	11.0	17.0
7	刘兴法	中国科学院光电技术研究所	17	140	8.0	11.0
11	岑明	中国科学院光电技术研究所	5	49	4.0	5.0