电缆试样的介质损耗测试试验及分析

• 作者: 褚晓锐 钱波 颜怀梁
• 来源期刊: 西华大学学报（自然科学版）
• 学科: 工学
• 关键词: 电缆试样 介质损耗 分析
• 年，卷（期）: 2006,（5）
• 所属期刊栏目: 电气信息技术
• 页码范围: 63-65
• 页数: 3页
• 分类号: TM247+.2
• 字数: 1551字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1673-159X.2006.05.022

摘要

利用DETAL-2000测试仪对电缆试样进行介质损耗角正切的测量试验,发现电缆试样的介质损耗角正切开始为负,但随着测量电压的升高逐渐增大,在试样发生表面击穿时,变成正值.对试验结果进行分析,得到电缆试样的介质损耗值为负值的原因主要为外界电磁场对电桥的干扰和标准电容损耗较大,并提出了相应的技术处理措施.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	颜怀梁	西华大学电气工程学院	4	21	3.0	4.0