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摘要:
本文主要介绍数字系统的两个方面,即时域和数域以及对它们进行测试所采用的方法(定时分析和状态分析)然后介绍逻辑分析仪是如何解决数字电路故障查寻的问题.
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文献信息
篇名 浅谈逻辑分析仪
来源期刊 计量与测试技术 学科 工学
关键词 逻辑分析仪 定时分析 状态分析
年,卷(期) 2006,(3) 所属期刊栏目 计测技术
研究方向 页码范围 17,20
页数 2页 分类号 TB9
字数 1138字 语种 中文
DOI 10.3969/j.issn.1004-6941.2006.03.008
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序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 刘新 2 8 1.0 2.0
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研究主题发展历程
节点文献
逻辑分析仪
定时分析
状态分析
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
计量与测试技术
月刊
1004-6941
51-1412/TB
大16开
成都市东风路北二巷5号
62-198
1974
chi
出版文献量(篇)
9846
总下载数(次)
29
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