Bi元素对钛酸锶钡薄膜结构与性能影响的研究

• 作者: 付兴华 侯宪钦 侯文萍 周丽玮 陈学江 陶文宏
• 来源期刊: 硅酸盐通报
• 学科: 工学
• 关键词: BST薄膜 介电常数 介质损耗 Bi施主掺杂 结构特征
• 年，卷（期）: 2006,（3）
• 所属期刊栏目: 专题论文
• 页码范围: 62-67
• 页数: 6页
• 分类号: TQ17
• 字数: 3783字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1001-1625.2006.03.014

摘要

研究了微量元素铋对Sr0.5Ba0.5-xBixTiO3薄膜介电性能的影响.当X分别为0～0.030 mol时,相对介电常数εr、介质损耗tanδ逐渐降低,最大介电常数温度点Tm(居里温度点)逐渐移向低温;在所测试频率范围内,εr、tanδ均能表现出较好的频散特性;当铋掺量为0.015mol时,薄膜的Pr为0.22μC/cm2、Ps为0.32μC/cm2、Ec为60kV/cm.采用XRD、FTIR、TEM等测试方法分析了薄膜的结构特征.薄膜的矿物组成为四方钙钛矿结构,但[TiO6]八面体特征吸收峰(471.65cm-1)移向低波数,晶粒粒径减小.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	侯文萍	济南大学材料学院	21	168	7.0	12.0
2	付兴华	济南大学材料学院	56	382	10.0	17.0
3	侯宪钦	山东大学晶体材料国家重点实验室	25	315	8.0	17.0
5	陶文宏	济南大学材料学院	45	468	13.0	19.0
8	陈学江		5	14	3.0	3.0
9	周丽玮		7	51	4.0	7.0