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摘要:
目前基于延时的上电复位电路,其延时电容在掉电后,所储存的电量影响了下一次上电的延时,容易出现复位电平太窄甚至无法产生复位电平的问题;并且电源电位的上升速度,也会影响到复位电路的可靠性;针对此类问题,提出一种基于电平检测的上电复位电路,利用电源回路中本身具有的RC延迟时间作脉冲宽度,可以达到较长的复位时间;并且本电路的复位电平与工艺参数相关,能保证实际电路在复位电平消失后的可靠工作;探讨了本电路的复位特征及可靠性,并从流片结果得到验证.通过理论上的分析和实际结果的测量,本复位电路具有良好的可控性和优秀的复位能力;而且还具有较小的芯片面积.在某些情况下,还可以替代欠压检测电路.
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内容分析
关键词云
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文献信息
篇名 基于电平检测的上电复位电路
来源期刊 电子器件 学科 工学
关键词 上电复位 复位脉冲宽度 电平检测
年,卷(期) 2006,(4) 所属期刊栏目
研究方向 页码范围 1107-1109
页数 3页 分类号 TP274.4
字数 2167字 语种 中文
DOI 10.3969/j.issn.1005-9490.2006.04.031
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 常昌远 东南大学集成电路学院 50 471 14.0 19.0
2 高鹏 15 109 3.0 10.0
6 蔡世俊 1 15 1.0 1.0
传播情况
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研究主题发展历程
节点文献
上电复位
复位脉冲宽度
电平检测
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
电子器件
双月刊
1005-9490
32-1416/TN
大16开
南京市四牌楼2号
1978
chi
出版文献量(篇)
5460
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21
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27643
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