传统MOSFET和超结MOSFET的体二极管反向恢复特性评估

• 作者: B.勃劳克威 P.舍诺依 S.舍科哈瓦特 刘茵
• 来源期刊: 电气技术
• 学科: 工学
• 关键词: 体二极管 反向恢复特性 耐用性 超结M0SFET
• 年，卷（期）: 2006,（9）
• 所属期刊栏目: 研究与应用
• 页码范围: 86-89
• 页数: 4页
• 分类号: TN3
• 字数: 2367字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1673-3800.2006.09.029

摘要

在许多高电压开关应用当中,都需要采用具有良好特性的体二极管且耐用性强的MOSFET.依照超结(SJ)电荷平衡概念所设计的器件[1,2],由于有着比普通MOSFET低得多的Rdson而得到普及.然而,普通SJ器件的一个缺点就是它的体二极管的反向恢复特性较差.早期的SJ器件有着较大的反向恢复电流,并且在某些反向恢复的情况下易于失效.尽管后来它的体二极管特性有了一定改善,但还是不能像传统MOSFET的体二极管那样耐用.我们示出即使施加缓和上升的di/dt,普通SJ器件的体二极管也还会失效.飞兆(Fairchild)公司利用二维数字仿真在电路和器件混合建模的条件来分析反向恢复瞬态期间在器件的内部发生了什么.这帮助我们理解失效背后的原因,并且设计出了耐用性更强的SuperFETTMSJ器件.反向恢复测量表明,普通SJ器件的体二极管在di/dt仅为100 A/μs的时候就会失效,而SuperFETTM器件几乎是不会破坏的,它在di/dt为1000 A/μs时仍能工作.飞兆(Fairchild)公司还设计出了带有快速恢复体二极管的、耐用的SuperFETTM器件,具有较低的Trr和Qrr.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	刘茵		1	0	0.0	0.0