镀锡钢板铬酸盐钝化膜的X射线光电子谱分析

• 作者: 刘春明 孙德恩 贡雪南 齐国超
• 来源期刊: 东北大学学报（自然科学版）
• 学科: 工学
• 关键词: X射线光电子谱 镀锡钢板 钝化膜 全元素扫描 窄幅扫描
• 年，卷（期）: 2006,（8）
• 所属期刊栏目: 材料与冶金
• 页码范围: 875-878
• 页数: 4页
• 分类号: TG178
• 字数: 2523字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:1005-3026.2006.08.013

摘要

使用X射线光电子能谱(XPS)全元素扫描分析方法对镀锡钢板铬酸盐钝化膜的成分进行了分析研究.结果表明,组成钝化膜的主要元素为Cr,O,Sn和C.通过Ar+溅射对钝化膜进行深度剖析表明,C元素来自于表面的污染而不是膜层本身;Cr和O元素随着Ar+溅射的进行含量逐渐降低,而Sn元素的含量却逐渐增加.溅射约360s后,Sn元素的含量已达到了80%以上,此时所对应的钝化膜的厚度约为20nm.通过窄幅扫描对钝化膜的相组成进行了分析,结果表明钝化膜主要由Cr(OH)3,Cr2O3,Sn及其氧化物构成.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	刘春明	东北大学材料与冶金学院	192	1692	21.0	31.0
2	齐国超	东北大学材料与冶金学院	11	110	7.0	10.0
3	贡雪南	宝山钢铁集团公司冷轧部	4	54	4.0	4.0
4	孙德恩	南洋理工大学机械与制造工程学院	1	21	1.0	1.0