基于阶次双谱的齿轮箱升降速过程故障诊断研究

• 作者: 唐力伟 李辉 郑海起
• 来源期刊: 中国机械工程
• 关键词: 故障诊断 轴承 阶次分析 双谱 信号处理
• 年，卷（期）: 2006,（16）
• 所属期刊栏目: 机械科学
• 页码范围: 1665-1668
• 页数: 4页
• 分类号: TH115
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:1004-132X.2006.16.004

摘要

针对齿轮箱升降速过程中振动信号非平稳的特点,将常规的阶次分析与双谱分析技术相结合,提出了基于阶次双谱的齿轮箱故障诊断方法.首先对齿轮箱升降速瞬态信号进行时域采样,再对时域信号进行等角度重采样,转化为角域平稳信号,最后对角域重采样信号进行双谱分析,就可提取轴承的故障特征.通过对轴承内圈故障实验信号的分析表明,该方法能有效地识别轴承的故障.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	唐力伟		141	1349	18.0	31.0
2	李辉		66	873	19.0	26.0
3	郑海起		166	1911	24.0	33.0