人工污秽下盐/灰密对普通悬式绝缘子串交流闪络特性的影响

• 作者: 张志劲 张永记 胡建林 舒立春 蒋兴良
• 来源期刊: 中国电机工程学报
• 学科: 工学
• 关键词: 绝缘子串 等值附盐密度 灰密 交流闪络电压 人工雾室 污秽
• 年，卷（期）: 2006,（15）
• 所属期刊栏目: 电力系统
• 页码范围: 24-28
• 页数: 5页
• 分类号: TM835
• 字数: 3377字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:0258-8013.2006.15.005

摘要

污闪是电力系统的严重自然灾害之一,国内外对盐密(ESDD)的影响进行了大量的研究,但对灰密(NSDD)影响的研究较少.文中以7片串普通悬式绝缘子XP-160为试品,在人工雾室中进行了大量的人工污秽试验,分析了ESDD和NSDD的变化对人工污秽绝缘子交流闪络电压的影响.试验结果表明:在人工污秽试验中,ESDD和NSDD均对绝缘子交流闪络电压有影响,与ESDD对人工污秽绝缘子串绝缘子交流闪络电压的影响一致,人工污秽绝缘子串交流闪络电压与NSDD也呈幂函数关系.在对交流闪络电压的影响上,ESDD和NSDD是相互独立的.因此,污区的划分不仅应考虑ESDD,同时也应考虑NSDD.对于7片串XP-160,文中还给出人工污秽试验条件下绝缘子串的交流污闪电压表达式.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	蒋兴良	重庆大学高电压与电工新技术教育部重点实验室	218	5355	38.0	64.0
2	张志劲	重庆大学高电压与电工新技术教育部重点实验室	104	2551	29.0	47.0
3	胡建林	重庆大学高电压与电工新技术教育部重点实验室	105	1743	26.0	37.0
4	舒立春	重庆大学高电压与电工新技术教育部重点实验室	78	2090	24.0	44.0
5	张永记	重庆大学高电压与电工新技术教育部重点实验室	4	358	4.0	4.0