一种多核共享测试数据的BIST方案

• 作者: 方祥圣 梁华国 沈祝财
• 来源期刊: 计算机技术与发展
• 学科: 工学
• 关键词: SOC 芯片 测试数据共享 BIST
• 年，卷（期）: 2006,（5）
• 所属期刊栏目: 计算机应用研究
• 页码范围: 214-216
• 页数: 3页
• 分类号: TP301
• 字数: 2462字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1673-629X.2006.05.072

摘要

文中提出了一种新颍的SOC芯片BIST方案.该方案是利用相容技术和折叠技术,将SOC芯片中多个芯核的测试数据整体优化压缩和生成,并且能够实现多个芯核的并行测试,具有很高的压缩率,平均压缩率在94%以上;且结构简单、解压方便、硬件开销低,实验证明是一种非常好的SOC芯片的BIST方案.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	梁华国	合肥工业大学计算机与信息学院	192	1611	19.0	30.0
2	方祥圣	安徽经济管理学院计算机系	9	54	2.0	7.0
6	沈祝财	合肥工业大学计算机与信息学院	1	1	1.0	1.0