TiO2掺杂对ZnO-Bi2O3-TiO2低压压敏电阻电学性能的影响

• 作者: 孙丹峰 徐政 林枞
• 来源期刊: 硅酸盐学报
• 学科: 工学
• 关键词: 氧化锌压敏电阻 纳米胶体 二氧化钛掺杂 电性能
• 年，卷（期）: 2007,（1）
• 所属期刊栏目: 研究论文
• 页码范围: 21-25
• 页数: 5页
• 分类号: TQ174
• 字数: 2772字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:0454-5648.2007.01.005

摘要

通过研究微米粉体、纳米粉体和纳米胶体TiO2掺杂的ZnO压敏电阻的电性能,发现纳米胶体TiO2掺杂的ZnO压敏电阻具有较低的电压梯度和漏电流,而非线性系数较高.对电性能结果的分析表明:在ZnO-Bi2O3-TiO2低压压敏电阻中,晶界击穿电压不是一个固定值;漏电流中的线性分量对TiO2掺杂的ZnO压敏电阻电学性能影响很大.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	徐政	同济大学材料科学与工程学院	160	2312	24.0	39.0
2	孙丹峰		16	169	7.0	12.0
3	林枞	同济大学材料科学与工程学院	13	228	8.0	13.0