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摘要:
虚警率较高是制约机内测试(Built-in Test,BIT)技术发展与应用的关键问题之一.为降低虚警率,从BIT系统的信息处理流程和虚警率的数学模型两方面分析了传感层不确定性对虚警率的影响,阐述了基于传感器系统可靠性模型的传感层动态不确定性分析和计算方法;在BIT系统中嵌入传感数据证实模块,提出了传感层反馈型BIT系统模型;对新模型和原模型的输出数据不确定性及虚警率进行了分析和验证.结果表明:传感层反馈型BIT系统模型可以有效降低传感层输出数据的不确定性和虚警率.
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文献信息
篇名 传感层反馈型机内测试系统模型分析和验证
来源期刊 测试技术学报 学科 工学
关键词 机内测试 传感层 不确定性 虚警率
年,卷(期) 2007,(3) 所属期刊栏目 测试技术与理论研究
研究方向 页码范围 189-194
页数 6页 分类号 TH165.3
字数 4256字 语种 中文
DOI 10.3969/j.issn.1671-7449.2007.03.001
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 邱静 国防科技大学机电工程与自动化学院 115 1406 22.0 30.0
2 刘冠军 国防科技大学机电工程与自动化学院 88 860 18.0 23.0
3 杨光 空军装备研究院雷达所环境与可靠性试验中心 9 72 4.0 8.0
4 吴晓艳 1 0 0.0 0.0
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研究主题发展历程
节点文献
机内测试
传感层
不确定性
虚警率
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
测试技术学报
双月刊
1671-7449
14-1301/TP
大16开
太原13号信箱
22-14
1986
chi
出版文献量(篇)
2837
总下载数(次)
7
总被引数(次)
13975
论文1v1指导