单片机的ESD EMP效应及加固技术研究

• 作者: 侯民胜 问建
• 来源期刊: 电子工程师
• 学科: 工学
• 关键词: 静电放电电磁脉冲 单片机 加固技术
• 年，卷（期）: 2007,（2）
• 所属期刊栏目: 计算机与自动化技术
• 页码范围: 59-62
• 页数: 4页
• 分类号: TP3
• 字数: 3850字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1674-4888.2007.02.019

摘要

ESD EMP(静电放电产生的电磁脉冲)具有上升沿陡、频带宽和峰值大等特点,对电子系统具有很强的干扰和破坏作用.为研究ESD EMP对电子系统的影响,以单片机为实验对象,对单片机系统进行了ESD EMP辐照效应实验.实验表明,单片机系统在ESD EMP作用下,会出现10多种故障现象.文中在实验基础上研究了单片机加固技术.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	侯民胜		47	317	11.0	15.0
2	问建		11	69	4.0	8.0