叠栅条纹和CCD用于位移和角度的测量

• 作者: 文汝红 汪涛 石海泉 陶纯匡
• 来源期刊: 物理实验
• 学科: 工学
• 关键词: 泰伯效应 叠栅条纹 位移测量 角度测量 CCD
• 年，卷（期）: 2007,（10）
• 所属期刊栏目: 实验教学
• 页码范围: 3-6
• 页数: 4页
• 分类号: O436.1|TN386.5
• 字数: 1828字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1005-4642.2007.10.001

摘要

将叠栅条纹测量技术和CCD器件结合应用于角度和位移的智能测量系统,该系统利用光栅的衍射自成像现象产生虚拟光栅,与另一光栅形成叠栅条纹,并用CCD光电转换系统,测量叠栅条纹的距离,可得到两光栅间的夹角. 当任意一片光栅沿垂直于栅线方向移动时,通过数出移过叠栅条纹数目,即可得到相应光栅移动的位移. 本文还分析和讨论了误差来源及给实验带来的影响.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	汪涛	重庆大学数理学院	53	266	9.0	12.0
2	石海泉	重庆大学数理学院	1	14	1.0	1.0
3	陶纯匡	重庆大学数理学院	22	149	7.0	11.0
4	文汝红	宜春学院物理科学与工程技术学院	15	34	3.0	5.0