液晶盒厚度的反射光谱拟合法测量

• 作者: 康桂珍 黄子强
• 来源期刊: 液晶与显示
• 学科: 物理学
• 关键词: 液晶盒 反射光谱 光谱拟合
• 年，卷（期）: 2007,（4）
• 所属期刊栏目: 研究报告
• 页码范围: 382-386
• 页数: 5页
• 分类号: O753.2
• 字数: 848字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1007-2780.2007.04.005

摘要

介绍了一种测量液晶盒厚度的新型光学方法--反射光谱拟合法.理论上,液晶盒的反射光谱呈正弦曲线,且曲线取极值时对应入射光波长大小值取决于所用液晶盒的厚度.反之亦然,当得知液晶空盒的反射光谱时,可以根据曲线取极值时入射光波长的值来获得待测液晶盒的厚度.软件用来搜索与实验测试数据相互吻合的液晶盒厚度.该技术以白光作为液晶盒的前端光源,且白光入射角为0°.结果表明,该方法测量范围5～30 μm,测量重复误差0.1 μm以下.实验中,光纤光谱仪用来测试反射光谱,并通过USB接口将其传输到计算机.该方法的优点是它可以在0.1 s内测试液晶盒表面任意点处的厚度,有较强的使用价值.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	黄子强	电子科技大学光电信息学院	75	532	13.0	19.0
2	康桂珍	电子科技大学光电信息学院	3	30	3.0	3.0