减小时序电路测试功耗的"无关值"方法

• 作者: 苏群星 谷宏强 郭希维
• 来源期刊: 电子测量与仪器学报
• 学科: 工学
• 关键词: 时序电路 测试功耗 无关值 故障模拟
• 年，卷（期）: 2007,（5）
• 页码范围: 77-79
• 页数: 3页
• 分类号: TP391.76
• 字数: 2920字
• 语种: 中文

摘要

降低集成电路的功耗是目前广泛研究的一个问题,而降低测试功耗正是其中的一个方面.本文提出了一种基于"无关值"方法,将该方法应用到时序电路测试序列中,可以达到减少测试功耗的目的.给出了寻找"无关值"算法的主要步骤,对关键环节进行了详细论述,给出了实验结论.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	谷宏强	解放军军械工程学院导弹工程系	4	31	3.0	4.0
2	郭希维	解放军军械工程学院导弹工程系	7	34	3.0	5.0
3	苏群星	解放军军械工程学院导弹工程系	3	28	2.0	3.0