激光离子源离子迁移谱仪模拟研究

• 作者: 季仁东 王晓燕
• 来源期刊: 现代电子技术
• 关键词: 离子迁移谱 迁移管 SIMION 离子门
• 年，卷（期）: 2007,（24）
• 所属期刊栏目: 仪器与仪表
• 页码范围: 27-29,32
• 页数: 4页
• 分类号: TP274
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1004-373X.2007.24.010

摘要

离子迁移谱技术(IMS)是一门新兴的化学分析技术,被广泛应用于测定痕量的化学武器、毒品、爆炸物,以及空气污染物等,跟其他的有机化合物分析仪器相比较,他具有体积小、灵敏度高、适用范围广、分析时间快,能在大气压和室温下工作等优点,是一种前景广阔的检测仪器.介绍了激光离子源IMS的工作原理、主要特点和仪器结构,利用软件SMION设计模拟激光离子源IMS,通过模拟实验得出真空状态下,信号接收盘半径与信号强度成正比关系,以及迁移管内的离子门开关电压阈值.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	季仁东		1	3	1.0	1.0
2	王晓燕		1	3	1.0	1.0