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摘要:
研究了氧化剂碘酸钾及抛光粒子CeO2的浓度、抛光转速和抛光压力对铜的化学机械抛光速率的影响,并初步解释了影响因素的机理.实验表明在一定范围内材料的去除速率与抛光压力、抛光转速的关系可以用Preston方程的一般式R=KPαVβ来表示,并据此可得到α,β和K的值;而氧化剂和抛光粉浓度对抛光速率的影响无明确的规律.在0.2 mol/L KIO3+5%CeO2、压力11.703 kPa、转速25 r/min的条件下,铜去除速率为43.9 nm/min,抛光效果Ra=10.9 nm,Rmax=112 nm.
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文献信息
篇名 铜在含碘酸钾的CeO2浆料中CMP的抛光速率及影响因素的研究
来源期刊 有色金属(冶炼部分) 学科 工学
关键词 CMP CeO2 抛光速率 影响因素
年,卷(期) 2007,(4) 所属期刊栏目 材料与设备
研究方向 页码范围 53-55
页数 3页 分类号 TG146.1+1
字数 1987字 语种 中文
DOI 10.3969/j.issn.1007-7545.2007.04.017
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 李永绣 南昌大学材料科学与工程学院 108 1296 19.0 31.0
5 周雪珍 南昌大学材料科学与工程学院 34 360 12.0 18.0
6 胡建东 南昌大学材料科学与工程学院 14 124 7.0 11.0
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CeO2
抛光速率
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