"时间窗"对天线时域平面近场测试结果的影响

• 作者: 刘瑞祥 杨仕明 楼世平 王楠 薛正辉
• 来源期刊: 电波科学学报
• 学科: 工学
• 关键词: 天线测试 时域近场 时间窗
• 年，卷（期）: 2007,（1）
• 页码范围: 158-165
• 页数: 8页
• 分类号: TN820|TN828.4
• 字数: 3483字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1005-0388.2007.01.033

摘要

天线时域近场测试技术是一种新兴的、测试宽带场和工作在窄脉冲激励下天线辐射场的高效的测试技术.因为它可以利用"时间窗"技术进行信号处理,使其相对频域测试具有独特的优势.本文在已建立的天线时域近场测试系统的基础上,从实验的角度,对"时间窗"参数在天线时域平面近场测试中的影响进行验证分析.举例了三个波段标准天线方向图的测试分析结果,并得出初步结论.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	薛正辉	北京理工大学信息科学技术学院电磁兼容与微波系统实验室	47	388	11.0	18.0
2	刘瑞祥	北京理工大学信息科学技术学院电磁兼容与微波系统实验室	24	160	7.0	11.0
3	楼世平	北京理工大学信息科学技术学院电磁兼容与微波系统实验室	3	14	3.0	3.0
4	杨仕明	北京理工大学信息科学技术学院电磁兼容与微波系统实验室	20	304	11.0	17.0
5	王楠	北京理工大学信息科学技术学院电磁兼容与微波系统实验室	15	77	5.0	8.0