Ni(100)表面吸附Sn的第一性原理研究

• 作者: 李登峰 祖小涛 肖海燕 董会宁
• 来源期刊: 电子科技大学学报
• 学科: 工学
• 关键词: 皱褶幅度 密度泛函理论 锡化镍 表面合金 功函变化
• 年，卷（期）: 2007,（4）
• 所属期刊栏目: 电子信息材料与器件
• 页码范围: 663-665
• 页数: 3页
• 分类号: TN7115M|TN6840|TN6155
• 字数: 2587字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1001-0548.2007.04.003

摘要

用第一性原理的密度泛函理论分析了Sn吸附在Ni(100)表面的几何结构和稳定相吸附前后的功函变化情况.能量计算表明最稳定相是0.5 ML(monolayer)的Sn替代Ni(100)表面最外层原子形成c(2×2)结构的合金相,皱褶幅度为0.049 nm,与通过低能碱金属离子散射法和低能电子衍射法(LEED)所得到的实验值(0.044±0.005 nm)以及全矢量线性平面波法所得理论值(0.036 nm)吻合得较好,但与三维电子全息图所得值(0.09nm)和Castep程序所得值(0.018 nm)相差很大,Sn在Ni(100)表面吸附前后的功函变化值为0.31 eV,表明电荷从底物移向吸附物.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	祖小涛	电子科技大学物理电子学院	111	627	12.0	17.0
2	董会宁	重庆邮电大学应用物理研究所	41	206	6.0	13.0
3	李登峰	重庆邮电大学应用物理研究所	40	92	6.0	8.0
7	肖海燕	电子科技大学物理电子学院	6	21	3.0	4.0