利用6σ手段降低PIP制程的不良率

• 作者: 牟淑贤 石启军
• 来源期刊: 电子与封装
• 学科: 工学
• 关键词: PIP AI MI DFM L/T
• 年，卷（期）: 2007,（10）
• 所属期刊栏目: 封装、组装与测试
• 页码范围: 8-12
• 页数: 5页
• 分类号: TN605
• 字数: 4110字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1681-1070.2007.10.002

摘要

在PIP制程中,影响产品的最终质量涉及到的因素有很多.文章简单介绍了PIP制程的定义,详细阐述了PIP制程中影响产品不良的因素种类,分析了每一种因素产生的原因及预防措施,并针对这些因素采取6西格玛先进管理方法中的相应对策来分析和解决问题.同时列举了实例,针对主要不良因素加以改善来降低产品的不良率,从而保证产品的质量以获取更大的经济效益.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	石启军		3	1	1.0	1.0
2	牟淑贤	苏州职业技术学院电子工程系	2	1	1.0	1.0