基于CMOS图像传感器的微小变形测量系统

• 作者: 王彦平 赵太新 韩峰
• 来源期刊: 中国测试技术
• 学科: 工学
• 关键词: AT89C51单片机 OV5017CMOS图像传感器 DMA片内直接存储 USB通讯 图像匹配
• 年，卷（期）: 2007,（1）
• 所属期刊栏目: 计量技术与工程测试
• 页码范围: 62-64,81
• 页数: 4页
• 分类号: TP311
• 字数: 2340字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1674-5124.2007.01.020

摘要

近年来,图像处理在微小变形的测量中应用越来越广泛,它具有方便灵活、对被测对象没有任何伤害等优点,且只需对被测对象进行拍照,然后对图像进行处理分析,利用亚像素法原理即可精密测量出试样的微小变形.因此,利用AT89C51与CMOS图像传感器0V5017组成DMA方式数据采集系统,FT245BM虚拟USB口与PC机通讯,实现了对纵向和横向两个方向微小变形的无接触精密测量,且精度高成本低.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	韩峰	内蒙古工业大学机械学院	42	243	9.0	14.0
2	王彦平	内蒙古工业大学机械学院	3	20	2.0	3.0
3	赵太新	内蒙古工业大学机械学院	3	9	2.0	3.0