常用电路的故障注入方法

• 作者: 彭欣洁 黄永飞
• 来源期刊: 航空兵器
• 学科: 工学
• 关键词: 测试性 故障注入 ATE BIT
• 年，卷（期）: 2007,（2）
• 所属期刊栏目: 工程专业综合与质量管理
• 页码范围: 59-61
• 页数: 3页
• 分类号: TJ765.2+39
• 字数: 1944字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1673-5048.2007.02.016

摘要

介绍了一种在常用电路中进行故障注入的方法.通过这种方法,可以对被测产品进行已知故障的注入,来验证被测产品及其设备的测试性能,从而使被测产品和设备的测试性结论更具说服力.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	黄永飞		5	21	2.0	4.0
2	彭欣洁		2	21	2.0	2.0