一种基于相关处理的制冷CCD系统噪声评估方法

• 作者: 何玉青 刘广荣 张加深 金伟其
• 来源期刊: 北京理工大学学报
• 学科: 工学
• 关键词: 制冷CCD相机 噪声评估 相关检测
• 年，卷（期）: 2007,（8）
• 所属期刊栏目: 光学与电子工程
• 页码范围: 713-717
• 页数: 5页
• 分类号: TN214
• 字数: 3307字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1001-0645.2007.08.013

摘要

通过对CCD成像系统的噪声分析,从相关检测理论出发,提出制冷CCD成像系统噪声测量方法,该方法只需要对同一景物连续拍摄两帧图像就可快速计算出成像系统的噪声,可以实现对成像系统噪声的连续实时测量.测量结果表明:相关噪声测量方法可以克服或减小环境影响,测量过程简便易进行,有望成为光电成像系统,特别是制冷CCD成像系统噪声测量的有效方法.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	金伟其	北京理工大学信息科学技术学院光电工程系	310	4324	34.0	50.0
2	张加深	北京理工大学信息科学技术学院光电工程系	3	19	3.0	3.0
6	刘广荣	北京理工大学信息科学技术学院光电工程系	34	918	17.0	30.0
7	何玉青	北京理工大学信息科学技术学院光电工程系	23	335	10.0	18.0