一种CCD工作寿命预计方法

• 作者: 李晓潮 李立
• 来源期刊: 电子产品可靠性与环境试验
• 关键词: 电荷耦合器件 工作寿命 预计
• 年，卷（期）: 2012,（3）
• 所属期刊栏目: 可靠性预计与分配
• 页码范围: 49-52
• 分类号: TN386.5
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1672-5468.2012.03.010

摘要

介绍了一种适用于电荷耦合器件(CCD)的工作寿命预计方法.对CCD的失效模型进行了分析,并进行加速寿命试验,试验结果与理论分析结果较好地吻合.试验结果表明,对于一款成熟应用的GCD,其工作寿命值与其质量等级有直接的关系;质量等级越高的器件,其工作寿命值也越长.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	李晓潮		5	2	1.0	1.0
2	李立		6	2	1.0	1.0