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一种CCD工作寿命预计方法
一种CCD工作寿命预计方法
原文服务方：
电子产品可靠性与环境试验
摘要：
介绍了一种适用于电荷耦合器件(CCD)的工作寿命预计方法.对CCD的失效模型进行了分析,并进行加速寿命试验,试验结果与理论分析结果较好地吻合.试验结果表明,对于一款成熟应用的GCD,其工作寿命值与其质量等级有直接的关系;质量等级越高的器件,其工作寿命值也越长.
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文献信息
| 篇名 | 一种CCD工作寿命预计方法 | ||
| 来源期刊 | 电子产品可靠性与环境试验 | 学科 | |
| 关键词 | 电荷耦合器件 工作寿命 预计 | ||
| 年，卷（期） | 2012,（3） | 所属期刊栏目 | 可靠性预计与分配 |
| 研究方向 | 页码范围 | 49-52 | |
| 页数 | 分类号 | TN386.5 | |
| 字数 | 语种 | 中文 | |
| DOI | 10.3969/j.issn.1672-5468.2012.03.010 | ||
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电荷耦合器件
工作寿命
预计
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期刊影响力
电子产品可靠性与环境试验
主办单位：
工业和信息化部电子第五研究所(中国电子产品可靠性与环境试验研究所)
出版周期：
双月刊
ISSN：
1672-5468
CN：
44-1412/TN
开本：
大16开
出版地：
广州市增城区朱村街朱村大道西78号
邮发代号：
创刊时间：
1962-01-01
语种：
中文
出版文献量（篇）
2841
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0
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