基于遗传算法的逻辑电路测试生成的研究

• 作者: 万雅奇 李永刚 李瑞
• 来源期刊: 首都师范大学学报（自然科学版）
• 学科: 工学
• 关键词: 遗传算法 测试生成 故障模拟.
• 年，卷（期）: 2007,（5）
• 页码范围: 22-25,29
• 页数: 5页
• 分类号: TP301.6
• 字数: 2990字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1004-9398.2007.05.006

摘要

本文提出了一种基于遗传算法的逻辑电路测试生成算法,利用遗传算法的全局寻优特点进行集成电路的测试生成,并与确定性算法进行了比较,所得到的实验结果表明,遗传算法可以在比较小的测试矢量集下得到比较高的故障覆盖率,是一个有效的测试生产算法.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	李永刚	首都师范大学信息工程学院	17	104	7.0	10.0
2	万雅奇	北京工业大学计算机学院	6	10	2.0	3.0
3	李瑞	北京工业大学计算机学院	4	30	1.0	4.0