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摘要:
研究了一种新的具有ESD自保护结构的SCR-LDMOS,它是通过在漏极加入P+扩散对传统LDMOS结构的改进.模拟了器件的击穿特性并分析了二次电流It2提高的原因.ISE软件模拟结果表明:该结构具有良好的开启态,二次击穿电流和ESD耐压是传统LDMOS的8.5倍;关闭态有比较高的BVDB可以满足使用的要求.
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文献信息
篇名 新型SCR-LDMOS输出端的静电放电保护结构
来源期刊 电子器件 学科 工学
关键词 LDMOS SCR-LDMOS ESD 二次电流It2
年,卷(期) 2007,(6) 所属期刊栏目
研究方向 页码范围 2104-2107
页数 4页 分类号 TN432
字数 2861字 语种 中文
DOI 10.3969/j.issn.1005-9490.2007.06.034
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 李德昌 西安电子科技大学技术物理学院 20 82 6.0 7.0
2 习毓 西安电子科技大学技术物理学院 2 2 1.0 1.0
3 曲越 西安电子科技大学技术物理学院 2 2 1.0 1.0
传播情况
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2013(1)
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研究主题发展历程
节点文献
LDMOS
SCR-LDMOS
ESD
二次电流It2
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
电子器件
双月刊
1005-9490
32-1416/TN
大16开
南京市四牌楼2号
1978
chi
出版文献量(篇)
5460
总下载数(次)
21
总被引数(次)
27643
论文1v1指导