X射线TICT中能谱硬化修正模型的数值分析

• 作者: 彭光含 杨学恒 蔡新华
• 来源期刊: 无损检测
• 学科: 工学
• 关键词: X射线 工业计算机断层扫描成像技术 硬化修正 Simpson公式
• 年，卷（期）: 2007,（8）
• 所属期刊栏目: 科研成果与学术交流
• 页码范围: 457-460
• 页数: 4页
• 分类号: O434.1|TP391
• 字数: 1894字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1000-6656.2007.08.011

摘要

工业计算机断层扫描成像中,由于X射线能谱具有多色性,X射线在透射物质时,能量较低的射线优先被吸收,也即较高能量的X射线的衰减系数比较低能量的X射线的衰减系数小,射线随透射厚度增大,变得更易穿透,即发生了能谱硬化现象.对能谱硬化现象进行了分析,利用Beer定律和X射线与物质作用的特点,提出了能谱硬化修正模型和数值分析,结合Simpson公式,导出了X射线TICT中修正模型的数值解法及其修正方法.对修正后的衰减系数再作卷积反投影重构,即可有效消除能谱硬化造成的影响.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	杨学恒	重庆大学数理学院	39	294	9.0	15.0
2	蔡新华	湖南文理学院物电系	25	140	7.0	10.0
3	彭光含	湖南文理学院物电系	49	241	8.0	12.0