SoC设计验证策略及方法学

• 作者: 董杨鑫 郑建宏
• 来源期刊: 电子质量
• 关键词: 验证技术 SoC 重用 随机约束 自检 形式断言
• 年，卷（期）: 2007,（10）
• 所属期刊栏目: 理论与实践
• 页码范围: 53-56
• 页数: 4页
• 分类号: TN407
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1003-0107.2007.10.017

摘要

验证在SoC设计过程中有十分重要的作用,它将影响到芯片的整体开销和质量.本文首先介绍了当前业界比较常用的一些验证技术的特点,包括仿真技术、静态验证技术、形式验证、物理验证等,然后通过实例论述在SoC设计验证中的关键技术--重用技术、随机约束验证、自检技术和形式断言验证.