基于 UVM验证方法学的纵向可重用研究

• 作者: 熊涛 蒋见花
• 来源期刊: 微电子学与计算机
• 关键词: UVM 纵向可重用 APB总线
• 年，卷（期）: 2016,（4）
• 页码范围: 64-68
• 页数: 5页
• 分类号: TN47
• 语种: 中文

摘要

现在片上系统（SOC ）的复杂度和集成度越来越高，这给验证带来了巨大的挑战．传统的验证方法存在各种不足，在效率方面已经远远达不到生产的要求．UVM是近年来兴起的一种高效的通用验证方法学，不仅可以缩短验证周期，而且具有很好的可重用性．UVM验证方法学的可重用主要分为横向的可重用和纵向的可重用，主要阐述了UVM中纵向可重用的方法，并以APB总线为例，描述了从模块级到系统级的验证平台的搭建方法，这种方法很好地体现了纵向重用提高验证效率的优势．

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	蒋见花	中国科学院微电子研究所	21	147	7.0	11.0
2	熊涛	中国科学院微电子研究所	8	153	3.0	8.0